江门直销手机综测仪需要多少钱

MT8821C ——全新无线电通信分析仪，拥有**宽带宽功能，支持LTE-Advance，可用于移动设备（用户设备，手机综测仪，UE）的研发测试。

易于操作MT8821C 使设置和操作错误成为过去时，通过预设的测量参数来简化配置，来测试由3GPP RF 测试标准规定的测试项目。此外，对于所有测试参数可以很容易地设置并改变，因为它使用了全新的高度先进的图形用户界面，其中包括了触摸屏操作。先进的参数搜索功能使复杂的用户测试设置变成快速而可靠地配置，根据测试规范的自动PASS / FAIL 判定测试结果，让测试速度变得更快，从而带来更大的成本效益。

深圳市天佑仪器有限公司是专门从事射频、微波、通讯电子测试仪器租赁、销售、维修、计量和技术咨询的专业公司。 公司自成立以来，不断追求仪器仪表领域的高新，通过长期不懈的努力，成为销售、租赁国际**品牌器的高速发展的**企业。 天佑拥有雄厚的实力，汇聚了仪器行业大量专业技术人才，公司**管理团队拥有多年的行业经验以及对产业发展的深入理解。凭借成熟稳健的管理团队，**的技术实力，经验丰富的营销队伍，完善的服务体系，以及良好如一的用户信誉，全力打造中国仪器行业的新品牌。本着不断创新的经营理念和对市场的精细把握，为我国航天、航空、***、通讯等科研单位以及国内外**企业提供了理想的测试仪器。 经销进口仪器：手机综合测试仪器、网络分析仪、频谱分析仪、信号发生器、信号分析仪、蓝牙测试仪、wifi测试仪、GPS测试仪、示波器、功率计、频率计、万用表、电源等等。

以上这些手机综测仪在移动终端的研发与生产测试领域都可以见到，特别是4G时代来临之后，终端生产测试技术也出现了革新，采用信令模式测试相对测试效率会降低，因为待测终端都需要像日常使用那样开机找网并注册到网络，这个时间在整个测试时间中会占到较大的比例，因此业界又开始采用早期的那种非信令测试方式，但仪表是面向产线需求进一步模块化与集成化，将信号源/频谱仪功能都集成在一个模块内，单台仪表往往可以安装多个模块，进一步提升测试效率及降低仪表的成本。比较有代表性的有R&S CMW500非信令测试平台，Anritsu MT8870A等。

随着移动通信设备的普及，手机终端的出货量日益增长，随着而来就带来了对测试方式及效率的革新，这时候测试仪表厂商就开始产生了把频谱分析仪与信号源集成在一起做成**的手机测试仪的想法，这种**的仪表我们一般就称为手机综合测试仪。手机综测仪从功能上不仅*是单纯的接受及发射射频信号，还会集成移动通信协议栈的功能，换句话说它可以模拟移动通信基站来让手机与测试仪建立其真正的通信连接，并在连接状况下进行相关射频测试，称为信令测试模式。信令模式的出现是手机测试方式的一大突破，也降低了手机测试的难度。

在2G时代，市场上比较多的手机综测仪有Agilent 8960，R&S CMD55及CMU200，Anritsu MT8801/8802。

手机综合测试仪包括GSM、IS-136、AMPS、GPRS、cdmaone cdma2000及WCDMA的移动电话测试应用选件。具有快速、精确、自动测试所需的所有功能和性能

手机综测的特点编辑1.测试速度提高达30倍  对移动电话制造商来说，手机综合测试仪的速度和并行测量能力能立即转化为竞争优势。以速度为目标设计的手机综合测试仪能**减少测量时间，从而有助于降低分摊到每部电话的制造费用。在进行各种测试时，它比以前的仪器快10到30倍。   2.易于编程和控制  该测试仪的远地用户接口（RUI）可使用高级测试命令进行测量和检索结果。测试仪内装有高级测试和复杂测量的处理算法，并在内部运行，因而能减少总线信息流量，增加测量的总体吞吐能力。由于RUI只需很少几行代码，因而易于把测试装置集成到您的制造环境中。您的程序员会发现只需短短几行代码，就能容易地编写、维护和升级测试程序

8960    E5515C用于移动电话生产过程中大生产量的测试，在大批量生产移动电话的过程中，出于产量的目的，测试通过量和测试合格率是关键问题。Agilent 8960系列10无线通信测试装置为移动电话生产商提供了立即参加竞争的有利条件。对大批量、自动移动电话生产用测试系统的开发，8960系列10测试装置提供了快速、准确、可重复、多格式的能力、易编程和格式灵活的体系结构。对于手机生产商来说，这有助于降低测试成本提高产量。主要测试：GSM、GPRS、EDGE、CDMA2000、EVDO、WCDMA、HSDPA、HSUPA、HSPA+、TD-SWCDMA

测试速度

8960系列10与上一代设备相比减少了**测试时间30%到300%。快速测试意味着对给定的生产量生产商可以减少测试设备，从而降低测试成本并节省厂房空间。它也为生产商提供了通过运行另外的测试提高移动电话质量或产量的选择余地。为了达到这个速度，该测试装置将已优化的硬件与快速处理算法、高电平命令和多路径、多处理器技术进行了综合。